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1、检查缺陷的方法、进行缺陷检查后的晶圆或者使用该晶圆制造的半导体元件、晶圆或者半导体元件的质量管理方法以及缺陷检查装置
[简介]： 一种检查缺陷的方法、进行缺陷检查后的晶圆或者使用该晶圆制造的半导体元件、晶圆或者半导体元件的质量管理方法以及缺陷检查装置。通过偏振器（8）对来自光源装置（7）的光赋予了偏振光后向被检查体（W）倾斜入射，对其散射光使...
2、检查缺陷的方法、进行缺陷检查后的晶圆或者使用该晶圆制造的半导体元件、晶圆或者半导体元件的质量管理方法以及缺陷检查装置
[简介]： 本套资料提供一种缺陷检查用图像处理装置等，其能够用产生的光线路径的不同变化来一次性以足够的精度检测出各种类型的缺陷。缺陷检查用图像处理装置图像分析装置6是对将移动中的成型片用区域相机5在时间上连续拍摄的...
3、缺陷检查用图像处理装置和缺陷检查用图像处理方法
[简介]： 使用信号阈值从板状体的拍摄图像中提取缺陷候补。从提取出的多个缺陷候补中搜索宽度方向的位置相同的缺陷候补，求取搜索出的缺陷候补的输送方向的位置和相邻的缺陷候补的输送方向的位置之间的间隔，反复进行上述处理，由此...
4、用于缺陷检查的图像数据的处理装置及方法、使用它们的缺陷检查装置及方法、使用它们的板状体的制造方法、以及存储介质
[简介]： 本套资料提供能够确保玻璃基板在搬运方向的平坦性、高精度地进行检查的玻璃基板缺陷检查装置或者玻璃基板缺陷检查方法。本套资料的特征在于：在通过空气产生悬浮力使玻璃基板悬浮，将玻璃基板向不存在所述悬浮力的检查区域搬运...
5、玻璃基板缺陷检查装置以及玻璃基板缺陷检查方法
[简介]： 本套资料主要内容为一种缺陷检查负载统计系统及方法，该方法包括如下步骤：利用缺陷检测机台检测缺陷信号；通过该缺陷检测系统直接将晶圆文件导出到服务器的固定目录；对缺陷数量超标的晶圆利用缺陷检测机台做进一步检查；于所有...
6、缺陷检查负载统计系统及方法
[简介]： 本套资料主要内容为一种钣金件曲面缺陷检查工具，属于钣金件曲面检查领域。该检查工具至少包括：聚氨酯板片、油石条、粘接剂，所述聚氨酯板片上排布有根据钣金件曲面曲率大小设置间距的所述油石条，所述油石条通过所述粘接剂与所述...
7、一种钣金件曲面缺陷检查工具
[简介]： 本套资料主要内容为一种膜缺陷检查装置，其是检测长膜的缺陷的检查装置，其特征在于，该检查装置具有：在上述膜的一侧表面侧照射上述膜的照明机构；设置在上述照明机构与上述膜之间的第1偏振片；设置在上述膜的另一侧表面侧的第2偏...
8、膜缺陷检查装置、缺陷检查方法和脱模膜
[简介]： 本套资料涉及振动噪声校正用缺陷检查装置。本套资料的目的在于，提供一种能够降低因振动而导致的振动噪声，并能够使因实际缺陷而导致的缺陷信号的识别性提高的振动噪声校正用缺陷检查装置，并且，本套资料的目的还在于，提供一种即...
9、振动噪声校正用缺陷检查装置
[简介]：本技术主要内容为一种胶套缺陷检查装置，包括相对设置的上压板和下压板，所述上压板的下表面设置有弹性层一，所述下压板的上表面设置有弹性层二，所述弹性层一和所述弹性层二之间设置有用于向胶套内充水的硬质充水管，所述...
10、一种胶套缺陷检查装置
[简介]： 本套资料属于工业压力管道缺陷检查技术领域，特别涉及一种蒸汽发生器传热管缺陷检查装置及其使用方法。该装置导管前端与探头机构相连，后端与推拔器相连；导管外设置第一导管鞘和第二导管鞘，二者通过连接法兰相连；第一导管鞘...
11、一种蒸汽发生器传热管缺陷检查装置及其使用方法
[简介]： 本套资料提供用多个探针除去光掩模上的异物缺陷的光掩模用的缺陷修正方法及装置、缺陷修正头、缺陷检查装置及光掩模制造方法。即准备多个探针，使其中至少两个探针同时接触光掩模表面上存在的异物，以至少不同的三处保持异物...
12、光掩模用的缺陷修正方法及装置、缺陷修正头、缺陷检查装置及光掩模制造方法
[简介]： 一种液晶面板视觉缺陷检查机，包括机架、旋转体以及热量供给装置，所述旋转体可旋转地装设在所述机架上，所述旋转体包括液晶面板检查光箱和液晶面板存储箱；所述液晶面板检查光箱与所述液晶面板存储箱固定连接；所述液晶面板...
13、液晶面板视觉缺陷检查机
[简介]： 本套资料提供一种缺陷检查装置和缺陷检查方法。该缺陷检查装置包括：光源，其*激光；反射镜组，其将所述光源*的入射激光的波面分割为多个分量波面，将所述分量波面排列为形成朝着一个方向的阵列，并在所述激光通过移动的...
14、缺陷检查装置和缺陷检查方法
[简介]： 本套资料主要内容为一种对冷硬卷表面进行缺陷检查的方法，属于冷轧板带轧制技术领域。该方法对抽选出的冷硬卷分别沿轧制方向和宽度方向进行打磨，并对打磨区域进行检查，找出需要进行粗糙度测量的区域，根据粗糙度测量值与均值之...
15、一种对冷硬卷表面进行缺陷检查的方法
[简介]： 本套资料的缺陷检查装置取得检查对象的彩色图像信号。基于构成该彩色图像信号的多个信号成分，获得多个分析图像。对该多个分析图像的每一个图像进行检查对象的缺陷检测。通过对每个该分析图像检测到的候选缺陷检测差异，判定...
16、根据图像分析进行缺陷检查的缺陷检查装置
[简介]： 本套资料提供检查缺陷的方法和缺陷检查装置。经由偏光镜5使来自光源装置4的光成为偏光，并对被检查体W从倾斜方向入射，以具有配置在暗视野的偏光分离元件9的CCD摄像装置7对其散射光SB进行摄像，对于得到的P偏光...
17、检查缺陷的方法及缺陷检查装置
[简介]： 使构成液晶显示面板2的像素的多种着色层全部同时点亮，利*有多个拍摄像素的CCD照相机3，一边使CCD照相机3每次移动事先设定的距离，一边对像素进行多次拍摄。运算多次拍摄的每一次的拍摄像素的亮度数据，合成亮度数...
18、显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置
[简介]： 使构成液晶显示面板2的像素的多种着色层每隔1列地点亮，利*有多个拍摄像素的CCD照相机3，一边使CCD照相机3每次移动事先设定的距离，一边对像素进行多次拍摄。运算多次拍摄的每一次的拍摄像素的亮度数据，合成亮度...
19、显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置
[简介]： 本套资料的目的在于提供缺陷检查装置和缺陷检查方法，仅利用一部分合格图案信息即可检查出检查基板的图案偏差，不需要检查区域整体的预测位置信息，能够抑制为所需的最小限度的信息量。为此，具有：对被检查基板进行拍摄的单元...
20、缺陷检查装置和缺陷检查方法
[简介]： 提供能在短时间判别样本表面的图案形状优劣的缺陷检查装置及检查方法。一种缺陷检查装置20，检查形成有反复图案的基板晶圆10的缺陷，其具有：照明光学系统21，包含物镜9，通过该物镜9对形成于晶圆10的反复图案照射来自光源...
21、缺陷检查系统及缺陷检查方法
22、缺陷检查系统及缺陷检查方法
23、缺陷检查方法以及缺陷检查装置
24、硅晶圆的缺陷检查装置及其缺陷检查方法
25、基板内部缺陷检查装置及方法
26、波纹缺陷检查掩模、波纹缺陷检查装置及方法、以及光掩模的制造方法
27、缺陷检查装置及使用该缺陷检查装置的基板制造系统
28、基板内部缺陷检查装置及方法
29、成形片材的缺陷检查装置
30、图案缺陷检查方法及图案缺陷检查装置
31、缺陷检查装置及缺陷检查方法
32、缺陷检查方法和缺陷检查装置
33、缺陷检查装置及缺陷检查方法
34、缺陷检查系统及缺陷检查方法
35、蜂窝结构体缺陷检查装置
36、缺陷检查装置
37、一种通过调节缺陷检查设备参数过滤芯片锥形缺陷的方法
38、图案缺陷检查装置、图案缺陷检查方法及光掩模的制造方法
39、中空纤维多孔膜的缺陷检查方法、缺陷检查装置以及制造方法
40、缺陷检查装置缺陷检查方法
41、边缘传感器和缺陷检查装置
42、边缘传感器和缺陷检查装置
43、钢轨底部缺陷检查镜
44、缺陷检查装置和缺陷检查方法
45、缺陷检查装置、图形描绘装置及图形描绘系统
46、缺陷检查方法以及利用该方法的缺陷检查装置
47、多层构造体的缺陷检查装置
48、缺陷检查装置
49、镜片缺陷检查设备
50、检查板状透明体的缺陷的装置以及缺陷检查方法
51、不均缺陷检查装置和方法及光掩模的制造方法
52、缺陷检查装置、缺陷检查方法和孔图形的检查方法
53、用于检查COG或COF绑定缺陷的平板显示面板结构
54、图形缺陷检查装置及图形缺陷检查方法
55、一种检查钢件渗碳表面加工缺陷的化学方法
56、一种壳体肋板无损检查线形显示缺陷改进方法
57、TFT-LCD功能缺陷自动检查装置
58、单张薄膜的缺陷检查装置
59、图像缺陷检查装置和图像缺陷检查方法
61、用于检查板栅缺陷的检验平台
62、用于检查板栅缺陷的检验平台
63、灰调掩模的缺陷检查方法及缺陷检查装置
64、一种PCB电路板缺陷自动检查设备
65、一种PCB电路板缺陷自动检查设备
66、一种检查板材板面缺陷的设备
67、缺陷检查方法
68、评价用基板、缺陷检查方法以及缺陷检测装置
69、一种光学纤维面板缺陷的检查装置
70、钢板表面缺陷检查工具
71、有机光导体表面缺陷视觉检查装置
72、缺陷检查装置
73、模拟缺陷晶片和缺陷检查处方作成方法
74、表面缺陷检查装置、表面缺陷检查方法及表面缺陷检查程序
75、缺陷检查装置及其方法
76、一种铜箔表面质量缺陷视觉检查机
77、一种带贴标机的铜箔表面质量缺陷视觉检查机
78、热处理炉前刷辊表面缺陷检查板
79、支援发现检查对象物的缺陷的系统及方法
80、用于检查晶体缺陷结构的方法和系统
81、铬版膜针孔微观缺陷高速自动检查仪
82、铬版膜针孔微观缺陷高速自动检查仪
83、铬版膜针孔微观缺陷自动检查仪光源同步悬臂
84、一种铬版膜针孔微观缺陷高速自动检查仪
85、灰阶掩模的缺陷检查方法及装置及其制造方法、光掩模的缺陷检查方法、图案转印方法
86、太阳电池检查装置以及太阳电池缺陷判定方法
87、透明板状体的缺陷检查方法及装置
88、全息信息存储介质和用于检查其缺陷的设备和方法
89、缺陷检查系统
90、缺陷检查数据处理系统
91、轧辊表面织布纹缺陷的辅助检查方法
92、显示面板及其像素缺陷检查方法
93、用于检查膜缺陷的设备和方法
94、缺陷检查方法以及使用该方法的磁盘驱动器
95、膜缺陷检查方法及装置
96、圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置
97、缺陷检查方法
98、一种检查印刷凹版辊筒体表面缺陷装置
99、晶片缺陷检查及特性分析的方法
100、一种电路板外观缺陷检查方法
101、投影缺陷和检查位置的系统及相关方法
102、投影缺陷和检查位置的系统及相关方法
103、被检体的缺陷检查方法
104、层叠膜的缺陷检查方法及其装置
105、液晶显示装置、缺陷像素检查方法和检查程序及存储介质
106、图案缺陷检查方法、光掩模制造方法以及图案转印方法
107、用于检查玻璃基底的边缘缺陷和变色的装置和方法
108、用于识别玻璃板表面缺陷和体缺陷的检查系统和方法
109、电致发光显示装置的缺陷检查方法及装置、以及制造方法
110、电致发光显示装置的缺陷检查方法及修正方法、制造方法
111、图像检查装置、缺陷检测方法及缺陷检测程序
112、树脂涂敷薄膜的涂膜缺陷的检查方法
113、容器口部缺陷检查方法及装置
114、图案缺陷检查方法、光掩模制造方法和显示装置基板制造方法
115、光掩模的缺陷检查方法以及光掩模
116、玻璃板的缺陷检测装置和制造方法、玻璃板制品、玻璃板的好坏判定装置和检查方法
117、缺陷检查方法
118、一种检查渗碳钢制轴承零件加工缺陷的酸洗液
119、一种等离子显示屏缺陷检查方法
120、波纹缺陷检查方法和系统及光掩模的制造方法
121、缺陷检查方法
122、缺陷检查方法
123、从检查系统向数据库自动传送缺陷图像的系统和方法
124、盘表面缺陷检查方法以及装置
125、波纹缺陷检查方法及装置、以及光掩模的制造方法
126、图形不匀缺陷检查方法和装置
127、灰调掩模缺陷检查方法及装置和光掩模缺陷检查方法及装置
128、图形的不匀缺陷检查方法和装置
129、缺陷检查方法
130、灰色调掩模的缺陷检查方法
131、灰色调掩模的缺陷检查方法和灰色调掩模的制造方法
132、一种检查平面质量缺陷的方法
133、检测缺陷的检查方法及检查装置
134、粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方法
135、掩模缺陷检查方法及其应用
136、用于检查大型工件缺陷的断层实时重建检查方法
137、一种检查图象以检测缺陷的方法及装置
138、使用X射线检查印刷组件改进缺陷焊点检测的方法和装置
139、使用微检查输入的微缺陷检测
140、母盘信息载体磁记录媒体缺陷检查方法
141、检查串行通信设备的缺陷的仪器与方法
142、检查串行通信设备的缺陷的仪器与方法
143、半导体数据存储电路装置及其检查方法以及替换该装置中有缺陷单元的方法
144、表面缺陷检查方法及装置
145、使用光的缺陷检查方法及其装置
146、轴状部件的表面缺陷检查方法与装置
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