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半导体试验装置,半导体试验装置制备工艺技术合集图文全套

请记住资料编号:GY10001-66371    资料价格:198元
1、半导体元件的特性试验装置和半导体元件的特性试验方法
        [简介]: 本套资料提供一种半导体元件的特性试验装置和半导体元件的特性试验方法,其在对半导体芯片进行树脂密封的半导体元件中,同时进行树脂密封部(15)的绝缘强度试验和其它特性试验,能够减少试验成本,减少特性试验装置整体的占用...
2、半导体元件的特性试验装置和半导体元件的特性试验方法
        [简介]: 本套资料提供一种半导体试验装置,是具有多个试验机的综合型的半导体试验装置,能够防止与试验机连接的配线的金属疲劳。在综合了用DC试验机进行的DC特性试验和用AC试验机进行的AC特性试验的半导体试验装置中,包括:固定DUT(...
3、半导体试验装置
        [简介]:本技术提供一种带Cr4+:YAG晶体的半导体激光泵浦固体激光器的被动调Q技术的实验装置,它结构简单,使用方便,无电磁干扰,可获得峰值功率大、脉宽小的巨脉冲,实现了连续变脉冲。
4、半导体泵浦固体激光器被动调Q试验装置
        [简介]: 本实施方式的试验装置对被试验存储器进行试验,所述被试验存储器将多个位作为页,具备可按多个页所构成的块来改写数据的块功能,所述试验装置包括:模式产生部ALPG,其生成页的地址信息,产生试验模式;波形整形部FC,其对...
5、半导体试验装置以及半导体存储器的试验方法
        [简介]: 本套资料主要内容为一种半导体致冷组件的试验装置,其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统将半...
6、一种半导体致冷组件的试验装置及其试验方法
        [简介]:本技术主要内容为一种半导体致冷组件的试验装置,其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器,水温调控系统...
7、一种半导体致冷组件的试验装置
        [简介]: 半导体发光器件寿命加速试验装置,属于半导体发光器件和应用产品的测试领域。现有技术存在操作复杂、测量结果不准确的缺陷,本实用新型包括温控箱、设于温控箱内的试验样品支承座以及光传输器,所述光传输器的一端为采集端,...
8、半导体发光器件寿命加速试验装置
        [简介]: 该接口电路20具有n个缓冲电路23.1~23.n、在从测试器1向n个DUT27.1~27.n提供信号时,连接测试器1的外部插头14和n个缓冲电路23.1~23.n的输入节点,同时将n个缓冲电路23.1~23.n的输出节点分别连接到n个DUT27.1~2...
9、耦合半导体试验装置和被试验半导体装置的接口电路
        [简介]: 该接口电路20具有n个缓冲电路23.1~23.n、在从测试器1向n个DUT27.1~27.n提供信号时,连接测试器1的外部插头14和n个缓冲电路23.1~23.n的输入节点,同时将n个缓冲电路23.1~23.n的输出节点分别连接到n个DUT27.1~2...
10、耦合半导体试验装置和被试验半导体装置的接口电路
        [简介]: 能够使实时控制定时发生器的可变延迟电路的电路形成为简单的构成,且确保定时容限Eye开口。定时发生器的可变延迟电路10包括:具有级联连接的多个时钟脉冲用缓冲器13-1~13-n的延迟电路11、级联连接的多个数据用缓冲...
11、定时发生器及半导体试验装置
        [简介]: 本套资料提供一种定时发生器及半导体试验装置,在对多个定时发生部10-1~10-n分配时钟的时钟分配电路20中,具备连接有主路径用缓冲器24的时钟主路径21、和连接有回送路用缓冲器27的时钟回送路26,将这些主路径用...
12、定时发生器及半导体试验装置
        [简介]: 一种印刷布线基板,其构成为包括:第1布线层,其由通孔只分离第1距离而形成;第2布线层,其由所述通孔只分离比所述第1距离更小的第2距离而形成;接触层,其与插入到所述通孔中的连接管脚电连接;与所述接触层电连接的第3布线层...
13、印刷布线基板及半导体试验装置
        [简介]: 本套资料的课题是提供能存储不合格存储单元的地址数据且是廉价的半导体试验装置、半导体试验方法和半导体装置的制造方法。如果从ALPG对作为试验对象的半导体存储器11、12、…、1n输入测试模式,则从半导体存储器11、12、…、1n对No...
14、半导体试验装置、半导体装置的试验方法和制造方法
        [简介]: 本套资料涉及在运算测量被测定物的电路参数时使用的夹具的特性的测定。一种用于测定具有连接DUT2和网络分析器1的信号线3a、3b、3c、3d的夹具3的夹具特性亦即信号线3a、3b、3c、3d的反射特性、传输S参数等的夹具特性测定装置,在...
15、夹具特性测定装置、方法、程序、记录介质以及网络分析器、半导体试验装置
        [简介]: 本套资料公开一种定时发生器20,其在对应于时钟信号的输入定时而输出输出信号的触发器基准信号延迟单元31的信号输入输出电路30中,不在该触发器31的输出端子侧而在时钟信号的输入端子侧设置延迟电路可变延迟单...
16、定时发生器以及半导体试验装置
        [简介]: 本套资料提供一种大功率半导体器件开通特性试验装置,包括恒流源单元、试验主电路单元、加热回路单元和保护回路单元;恒流源单元输出直流电流对可调电容器C进行充电,可调电容器C充电到试验电压,其放电与可调电抗器L谐振产生...
17、一种大功率半导体器件开通特性试验装置
        [简介]: 在从DUT输出的系统时钟的边沿定时,取得与比系统时钟高速的内部时钟同步的恢复时钟。包括:时间插补器20、数字滤波器40和数据侧选择器30。时间插补器包括输入DUT1的系统时钟的触发器21a~21n、顺次将以一定的定时间...
18、半导体试验装置
        [简介]: 以由DUT输出的时钟的上升及下降的两种边沿定时取得DUT被试验器件的输出数据,同期取得DDR型器件的输出数据。具备:时钟侧时间插入器20,其输入由DUT1的时钟、由一定的定时间隔的多个选通脉冲取得、作为时间序列的电平数...
19、半导体试验装置
        [简介]: 在根据内部地址信号向存储单元阵列写入数据之后,在读出工作中,将从各存储单元读出的数据与期待值数据进行比较。当设置2行备用行、2列备用列时,对于按顺序置换存储单元行和存储单元列的6个顺序分别设置置换判定部。只有当...
20、具有可抑制电路规模增大的测试电路的半导体装置和半导体装置的试验装置
        [简介]: 提供一种具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法及试验装置,用简单的板的构成,不需要对应每个IO规格变更测试系统而迅速地进行超过1GHz的高速IO的测试。在设置了用传送线路将具有高速输入输出装置2的半...
21、半导体试验装置的校准方法
22、半导体试验装置的校准方法
23、半导体试验装置的校准方法
24、半导体试验装置的校准方法
25、半导体试验装置的校准方法
26、半导体试验装置的校准方法
27、半导体试验装置的校准方法
28、半导体存储器试验装置
29、半导体集成电路试验装置
30、半导体试验装置的比较器
31、半导体元件试验装置用处理机的恒温槽
32、半导体器件试验装置
33、半导体器件试验装置
34、半导体器件试验装置
35、半导体器件试验装置及半导体器件试验系统

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  • 开本:16开
  • 资料形式:DVD/U盘/电子版    正文语种: 简体中文
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