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测试托盘,处理机制备工艺技术合集图文全套

请记住资料编号:GY10001-85206    资料价格:198元
1、测试托盘及具备该测试托盘的电子元件测试装置
        [简介]: 测试托盘TST具备可收容IC器件的多个插入件82和可游动地保持该插入件82的框架构件81,各插入件82以与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向置放在框架构件82上,插入件82配置成沿与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向叠置在...
2、测试托盘及具备该测试托盘的电子元件测试装置
        [简介]:本技术实施例提供的一种电子产品托盘,用于放置电子产品并连接测试部件对电子产品进行测试,所述的电子产品1包括本体101,托盘包括盘体6;所述的托盘体6上设置多个用于放置电子产品1的容置部7,所述容置部...
3、一种电子产品托盘、测试部件及测试装置
        [简介]: 本申请涉及振动托盘、产品测试控制器、振动腔室、测试系统、多室测试系统。振动托盘包括:桌面;以及固定装置,用于将产品连接至所述桌面,其中,所述桌面能够选择地固定至产品测试系统内的配套结构,并且在启动时用作所述产品测...
4、振动托盘、测试控制器、振动腔室、测试系统及多室测试系统
        [简介]: 本套资料提供了一种测试处理机、一种用于卸载封装芯片的方法、一种用于传送测试托盘的方法和一种用于制造封装芯片的方法。其中,装载单元包括在位于装载位置的测试托盘上执行装载工艺的装载拾取器;在腔室系统中,容纳在从装载...
5、测试处理机、卸载制造封装芯片和传送测试托盘的方法
        [简介]:本技术涉及芯片测试设备领域,尤其是芯片测试设备上用于装载待测芯片的芯片测试托盘。包括一大托盘,所述大托盘上设有测试座安装孔,所述的大托盘上的测试座安装孔呈纵横矩阵形式排列,所述的大托盘下部固定电路板,电路...
6、芯片测试大托盘
        [简介]: 本套资料主要内容为一种用于测试机械手的测试托盘。该测试托盘加载有半导体器件,然后沿着预定的循环路径携带这些半导体器件。测试托盘允许一个固定单元将多个相邻的插入模块固定到框架的容纳空间,从而与传统的测试托盘相比,有...
7、用于测试机械手的测试托盘
        [简介]: 本套资料主要内容为一种测试托盘。根据本套资料的一种实施方式,提供与待测试对象的电连接的测试托盘包括:其上形成有安装单元的托盘单元,其中,测试对象安装在安装单元上;电连接至测试对象的连接器单元;以及电连接至连接器单元的...
8、测试托盘
        [简介]: 一种用于打开测试托盘的插入件的单元,所述插入件包括用于容置半导体装置的容置空间以及用于支承容置在所述容置空间中的所述半导体装置的支承部,所述单元包括:主体;一对打开单元,设置在所述主体中以打开所述插入件;以及...
9、用于打开测试托盘的插入件的单元以及利用该单元安放半导体装置的方法
        [简介]:本技术主要内容为一种彩色显像管静特性测试托盘校正规,包括一规基板,其特征在于:在该规基板上、下部分别设有作为托盘的调整基准定位销,规基板下部设有矩形横尺,其两端设有可对托盘前支架左右及前后位置进行矫正的“L”型...
10、彩色显像管静特性测试托盘校正规
        [简介]: 本套资料提供了一种高精度定位板、一种测试处理机和一种封装芯片制造方法。高精度定位板包括连接待测试封装芯片的测试插座和主框架,在主框架中,测试插座布置在至少一个第一区域中以形成a×b矩阵其中,a和b是大于0的整数,并...
11、高精度定位板、测试托盘和处理机以及封装芯片制造方法
        [简介]: 本套资料涉及一种用于校正用户托盘位置的设备,该设备包括确定用户托盘位置的至少一个第一位置构件和至少一个第二位置构件、接收用户托盘的板件、沿着安装第一位置构件的方向移动用户托盘的第一校正单元、沿着安装第二位置构...
12、用于校正用户托盘位置的设备以及测试处理机
        [简介]: 一种用于测试半导体器件的处理机的测试托盘,其能够降低更换载座模块所需花费的成本和时间,并可获得提高的可使用性。测试托盘包括:框架;槽体,安装到框架上同时彼此均匀地隔开,每一个槽体均包括座体,在该座体上容纳有半导...
13、用于测试半导体器件的处理机的测试托盘
        [简介]: 本套资料涉及一种有结构的处理机,所述结构具有装填位置和卸载位置,在装填位置处,封装芯片被装入测试托盘中,在卸载位置处,封装芯片被从所述测试托盘卸载下来,并且所述结构具有测试托盘从装填位置移动到卸载位置的路径和测...
14、处理机、及其测试托盘转送方法和封装芯片制造方法
        [简介]: 本套资料提供了一种转移测试托盘的装置、一种装备有该装置的处理机、一种在处理机中转移测试托盘的方法、以及一种利用该处理机制造半导体器件的工艺,转移测试托盘的该装置包括:至少一个移动件,该至少一个移动件包括推动第一...
15、转移测试托盘的装置和方法、具有该装置的处理机、及制造半导体器件的工艺
        [简介]: 本套资料提供了一种在处理机中用于转动测试托盘的装置,该处理机用于为了测试目的而处理封装芯片,该装置包括:底架,可通过转动致动器转动;支撑板,可通过线性致动器沿给定方向滑动,用于支撑测试托盘;一对第一导向件,设置在...
16、处理机中用于转动测试托盘的装置
        [简介]: 本套资料主要内容为一种用于在处理机中传送测试托盘的方法,该处理机包括:第二室,具有平行布置的两个测试台;第一室,设置在第二室上方;以及第三室,设置在第二室下方,该方法包括以下步骤:a测试托盘在等待地点等待;b装载封装...
17、用于在处理机中传送测试托盘的方法
        [简介]:本技术涉及一种电池安全性能测试隔离托盘,其特征在于,隔离托盘为长方形,由底板、左侧板、左侧板、前侧板和后侧板构成;隔离托盘内由横隔板和竖隔板隔成若干组隔段,形成若干个小格,左侧板、左侧板与每个小格对应的位置上...
18、一种电池安全性能测试隔离托盘
        [简介]: 一种木托盘的木墩的安全性测试装置,包括:吸水率测试装置,用于测试所述木墩在盐水中的吸水率;双八五测试装置,用于测试所述木墩在温度为85۬度、湿度为85%RH的环境下的湿气渗透性;加速老化测试装置,用于测试所述木墩在温...
19、木托盘的木墩的安全性测试装置
        [简介]: 一种发动机测试台多台架多托盘对中调试方法,包括以下步骤:任选一套基准台架P和基准托盘Q,将发动机安装在基准托盘Q的发动机支架上;调整基准托盘Q与基准台架P使基准台架P的台架主轴与基准托盘Q上发动机的主轴满足对中要...
20、一种发动机测试台多台架多托盘对中调试方法
        [简介]: 一种木托盘的木墩的安全性测试装置及方法,其中该装置包括:吸水率测试装置,用于测试所述木墩在盐水中的吸水率;双八五测试装置,用于测试所述木墩在温度为85۬度、湿度为85%RH的环境下的湿气渗透性;加速老化测试装置,用于...
21、发动机动力测试与实验的快装托盘
22、发动机动力测试与实验的快装托盘
23、电子元件测试方法、插入件、托盘及电子元件测试装置
24、用于半导体器件处理机的具有载体组件的测试托盘
25、芯片测试机的托盘夹结构
26、炉温测试仪托盘
27、插入件、托盘及电子元件测试装置
28、插入件、托盘及电子元件测试装置

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  • 开本:16开
  • 资料形式:DVD/U盘/电子版    正文语种: 简体中文
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  • 分类:专业技术
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